Scanning+elektronmikroskopi+(SEM)

=Scanning elektronmikroskopi (SEM)=

Elektroner sendes ut fra en elektronkanon og blir fokusert i en meget tynn stråle, vha magnetiske linser, som scanner over prøven. Når elektronstrålen treffer prøven gir det flere vekselvirkninger som detekteres av ulike typer detektorer. Dette gir bildet, som også kan gi informasjon om kjemisk sammensetning.

En av styrkene til SEM er at man kan oppnå en forstørrelse på 1 000 000x. I og med at bildedannelsen skjer gjennom oppsamling av reflekterte elektroner, er prøvens tykkelse uten betydning. Dette fører til at det er enkelt å tillage prøver, men prøvene må være elektrisk ledende. Dette er naturlig oppfylt for metaller og legeringer. Hvis prøven er et ikke-ledende materiale kan man oppnå elektisk ledningsevne ved pådamping av karbon eller gull.